商品詳細情報
NexION 2000
ICP質量分析装置
NexION 2000の技術的革新は、あらゆるラボに最高のパフォーマンスを提供します。
＜特長＞
・究極の検出下限値を得ることができる最も強力な干渉除去能力
第二世代Universal Cell Technology™ (UCT) により、干渉を簡単かつ確実に除去します。
3種類の測定モードと3つのガスラインにより、すぐれた柔軟性と性能を提供します。
・メンテナンスを最小限に抑えたICP-MS
収束効率の高いイオンビームの生成により最もクリーンなICP-MS分析環境を提供する
NexION 2000は、メンテナンスの必要がほとんどなく、最高レベルの稼働率を実現します。
・LumiCoilテクノロジー
革新的なLumiCoil™テクノロジーによるプラズマの生成には水やガスによる冷却が不要です。
PerkinElmerが開発した新しいソリッドステートフリーランニングRFジェネレーターにより優れた
プラズマ出力と安定性が実現し、マトリックス耐性は一段と向上しています。
・トリプルコーンインターフェース (TCI)
独自のハイパースキマーコーンにより、業界最高レベルの収束効果の高いイオンビームを生成します。
これらのコーンはゲートバルブ外にあるため、素早く簡単にアクセスできます。
・四重極イオンディフレクター (QID)
イオン化した元素のみ効率よくユニバーサルセルに導入するため、メンテナンスが簡便になり、
最高の安定性と再現性を実現します。
トリプルコーンインターフェースと四重極イオンディフレクターを組み合わせた特許技術により、
イオンビームを効果的に制御、収束できることから、NexION 2000はセルの交換が不要な唯一のICP-MSです。
・どのようなサンプルでも最適な結果が得られます
EDR（拡張ダイナミックレンジ）を搭載したNexION 2000では、信号強度の調節が可能です。
このため、同じ分析、同じサンプルにおいて、低濃度と高濃度の元素を同時に測定できます。
リアクションモードのDynamic Bandpass Tuning機能(特許取得済み)では質量分解能を調節できるため、
通過イオンを効率的に選択し、測定対象元素の透過率を最大化することで、精度と検出下限値が向上します。
・マトリックスに影響を受けない高い柔軟性
NexION 2000の強力なAll Matrix Solution (AMS)サンプル導入システムにより、高濃度マトリックスを含む
サンプルでも希釈せずに分析できます。 AMSにより高濃度マトリックスを含むサンプルに対応しながら、
EDRにより高濃度と低濃度の元素を同時に測定できる柔軟性を備えており、再分析を軽減します。
・コンパクトなデザイン
810 x 690 x 750 mm (W x D x H) のコンパクトなデザインで貴重なラボスペースを節約できます。
タグ: ICP-MS
登録日：2010年11月5日
※価格と仕様は予告なく変更されることがあります。
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