微小・微細な電子部品などに施されたナノオーダーレベルのめっき膜厚測定に対し、 ポリキャピラリ光学系と高性能半導体検出器を搭載し、高精度・高スループットを実現した 蛍光X線膜厚計最新モデルです。
タグ: X線分析装置, 膜厚計
登録日:2020年1月29日 ※価格と仕様は予告なく変更されることがあります。 詳細はこちらからお問い合わせください。