半導体検出器搭載により、フラッシュ金(Au)めっきの膜厚測定や無電解ニッケル(Ni)めっきのリン(P) 濃度測定等、比例計数管モデルでは測定の難しいアプリケーションに対応可能です。 また、複数種類あるステージやコリメータからの選択により、最適な装置構成を実現できます。
タグ: X線分析装置, 膜厚計
登録日:2019年7月23日 ※価格と仕様は予告なく変更されることがあります。 詳細はこちらからお問い合わせください。