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分光蛍光マイクロスコープ
~EEM® View~

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EEM
試料のスペクトル測定と観察を両立した新たなコンセプトのシステムです。観察画像からAI技術を応用した解析
アルゴリズムにより、蛍光画像と反射画像に分離表示するとともに、画像より、区画ごとのスペクトル化
(蛍光スペクトル・反射スペクトル)が可能です。 ※画像はF-7100形蛍光光度計での構成例

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