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蛍光吸光分光装置
DUETTA

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DUETTA
新手法!A-TEEM(新三次元蛍光測定)を実現、新たな蛍光指紋測定を提案

<HORIBAの独自技術A-TEEMとは?>
A-TEEM分光法とは、吸光度、透過率、励起蛍光マトリクス(A-TEEM:Absorbance-Transmittance
Excitation Emission Matrix)を同時に取得する分光法です。これにより、試料自体の吸光による発光
スペクトル形状の歪みを補正できるため、従来の走査型蛍光光度計から収集されたEEMよりも正確な
蛍光指紋測定が実現できます。さらにA-TEEM分光法と多変量解析を組み合わせることで、HPLCや
質量分析計のような従来の分析装置と比較し、容易・高速・安価での成分分析が可能となります。

<特長>
・タッチスクリーンやプッシュオープン式のカバーを採用、スムーズな測定作業を実現
・滴下用インジェクションポートによるダイナミック測定が可能
・オプションの交換も容易

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