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※こちらの商品は販売を終了致しました。後継機種はTM4000II / TM4000PlusIIをご覧下さい。
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拡がる低真空観察の世界
TM3030Plusは、低真空雰囲気で二次電子像観察が行えます。

＜特長＞
　(1)高感度低真空二次電子検出器を搭載
　　　　上位機種で採用している高感度低真空二次電子検出器を搭載。試料前処理を行うことなく低真空
　　　　雰囲気下で二次電子像を観察できます。
　(2)試料の微細形状と組成情報を合成して表示可能
　　　　同一視野の二次電子像と反射電子像を合成して表示できるため、試料表面の微細形状と組成情報
　　　　を同時に観察できます。
　(3)大口径(30mm²)SDDを搭載したEDXによる迅速分析
　　　　EDX（エネルギー分散型Ｘ線分析装置）には、30 mm2の大口径SDD（シリコンドリフト検出器）を
　　　　搭載し、効率よく迅速に定性分析、元素マッピングが行えます。
　　　　金属コーティングなどの前処理を省き、貴重な試料もダメージを抑えながら、観察から分析まで
　　　　シームレスに行えます。

＜オプション＞
　・TM3030/TM3000専用エネルギー分散型X線分析装置
　　　Quantax70
　　　SwiftED3000

　・TM3030/TM3000専用3次元画像表示・計測機能

• メーカー: (株)日立ハイテク
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• 仕様:

タグ: 電子顕微鏡

登録日：2015年4月3日
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