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商品詳細情報

分光エリプソメーター
UVISEL Plus

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UVISEL Plus

<紫外域~近赤外域まで対応のR&D向け高精度分光エリプソメーター>
先端研究の薄膜・表面・界面の特性評価のために、UVISELシリーズは、モジュール式と性能面でベスト
な組み合わせを提供します。位相変調技術に基づき、紫外域190nmから近赤外域2100nmまでの
広範囲な波長域をカバーしており、高精度・高分解能測定・素晴らしいS/N比で、全波長域に渡って
高品質な測定データを採取することができます。

<特長>
UVISEL
 波長範囲:210-880nm

 一般的な膜厚測定にご使用いただける標準波長範囲を有したモデル。将来的に近赤外域への拡張が可能。

UVISEL NIR
 波長範囲:260-2100nm

 UVISELモデルよりも高分解能を有する分光器を有し、紫外域~近赤外域までの連続測定を実現したモデル。
 検出波長域の異なる2種類の高感度検出器を搭載(測定中は自動切換)。ナローバンドギャップ材料の評価や
 超厚膜測定などに最適。

UVISEL FUV
 波長範囲:190-880nm

 高度な光学設計により、素晴らしいS/N比のまま190nmまでの紫外域へ拡張したモデル。将来的に近赤外域へ
 の拡張が可能。SAM膜のような超薄膜測定などに最適。

UVISEL ER
 波長範囲:190-2100nm

 UVISEL FUVモデルに近赤外域を拡張し、UVISELシリーズの中で最も広い波長範囲で素晴らしいS/N比を実現
 したモデル。あらゆる応用分野に最適。

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