中山商事では、試薬・理化学機器の専門商社として研究開発・生産活動をトータルサポートさせて頂きます

非破壊、非接触による、化合物半導体(ワイドギャップ半導体からナローギャップ半導体まで)の
組成評価、欠陥評価、量子井戸の評価、不純物評価、結晶性評価が行える装置です。
＜主な特長＞
・ツエルニターナ型分光器(焦点距離800mm)により、高精度測定が可能
・複数のレーザを搭載可能(DUV〜NIR)
・2つの検出器(アレイ型、シングルチャンネル型)が搭載可能で、UVからNIRまで、広い測定
　レンジ(200nm〜1600nm以上)を高感度で測定可能
・2種類の回折格子を標準で搭載
・最大300mm大型XYステージでのマッピング測定が可能。また、高倍率対物レンズで、
　微小部分のマッピング評価も可能

• 価格: お問合せ下さい
• メーカー: (株)堀場製作所

タグ: 分光光度計, 蛍光分光光度計

登録日：2012年9月12日
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