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卓上顕微鏡 Miniscope®TM4000PlusIII/TM4000III

admin — Tue, 03 Sep 2024 04:13:48 +0000

シリーズ累計5,800台を突破したMiniscope®から新たなラインアップが誕生しました。
研究開発・品質管理・教育の最前線で活躍される皆様に、さらなる業務改善が期待されるMiniscope®です。

中型プローブ顕微鏡システムAFM5500MⅡ

admin — Wed, 12 Jun 2024 06:58:59 +0000

高精度スキャナと様々な測定自動化機能に加え、2種類のリンケージ機能を搭載。
複数装置の相関解析結果から単独では実現できない多角的視点での欠陥評価や故障解析を可能にします。

イオンミリング装置IM4000II

admin — Thu, 20 Jan 2022 06:59:10 +0000

日立イオンミリング装置のベストセラー“IM4000”の後継機種としてデビュー。IM4000Plusの基本性能を踏襲し、
ArBlade5000で採用したタッチパネルを搭載。操作性を向上しました。

日立イオンミリング装置のスタンダードモデルとして、断面ミリングと平面ミリング（フラットミリング（R）*1）
に対応しています。冷却温度調整機能や雰囲気遮断ホルダユニットなど、各種オプションにより、さまざまな試料の
断面試料作製が可能です。
*1 フラットミリング（R）は、日本国内における株式会社日立ハイテクの登録商標です。

卓上顕微鏡 Miniscope®TM4000II/TM4000PlusII

admin — Thu, 26 Sep 2019 02:13:59 +0000

卓上SEMは、次のステージへ。
もっと、高画質に、もっと使いやすく、見やすくをコンセプトに開発したTM4000シリーズはさらに
機能を拡張したTM4000Ⅱシリーズを発売。新たな観察・分析アプリケーションをご提供します。

エネルギー分散型X線分析装置Quantax75

admin — Mon, 24 Jul 2017 00:10:00 +0000

＜特長＞
・簡単操作で迅速なカラーX線マップ
・指定したスポット位置の移動に対応してスペクトル確認が可能
・ハイパーマップにより、一度の測定でスポット分析・ライン分析・
　マッピング結果を取得可能

エネルギー分散型X線分析装置AZtecシリーズ

admin — Mon, 24 Jul 2017 00:00:10 +0000

・操作フロー順に並んだアイコンで簡単操作
・適合スペクトルの表示で元素の重なりを簡単確認
・TruMap機能でピークが重なる元素を分離して正しく表示（AZtecOne）

日立イオンスパッタMC1000

admin — Mon, 02 Sep 2013 05:37:17 +0000

マグネトロン電極の採用で試料をマイルドコーティング
＜特長＞
　・LCDタッチパネルにより指先ひとつで電流・時間などの条件設定が可能
　・設定した条件の保存・読み出しが可能なレシピ機能を標準装備
　・オプション装着により厚い試料や大型の試料に対応可能

日立電子顕微鏡用イオン液体HILEM IL1000

admin — Fri, 31 May 2013 06:19:08 +0000

SEM観察画像の障害と試料形態の収縮や変形を防ぐことのできる、安全性の高い日立電子顕微鏡用イオン液体
HILEM IL1000 を世界に先駆けて商品化・発売開始です!!

イオン液体とは？
・常温溶融塩：常温で液体状態の塩
・蒸気圧がほとんどゼロ：真空中で蒸発しない。
・イオン導電性を有する。

＜SEM観察での用途＞
　・導電性付与剤、チャージアップ軽減剤として絶縁物の観察に有効です。
　・試料表面が入り込んだ凹凸の激しい試料でも全体に浸み込みます。
　・真空中での水分蒸発による形態の収縮や変形を防げます。
　・生物組織の固定・脱水・乾燥などの試料作製過程を短縮できます。

＜イオン液体としての特長＞
　・生体関連物質コリンの分子形状を模倣
　・小さな分子サイズ
　・高親水性
　・高浸透圧

詳細は以下のメーカーサイトより御覧下さい。

ALLIED 精密研磨装置MultiPrep™システム

admin — Wed, 19 Sep 2012 01:17:47 +0000

研磨装置を見直してみませんか？
ALLIED社MultiPrep™システムは、広範囲な材料を、高精度かつ半自動で処理することのできる研磨装置です。

＜特長＞
１．5種類の研磨が1台の装置で可能（平行研磨、断面研磨、TEM前処理用楔形研磨、FIB前処理研磨、裏面研磨）
２．キャリブレーションキットを用いることにより、垂直・平行の校正がより容易にできます。
３．ダイヤモンドラッピングフィルムを用いることにより、5µm精度の精密研磨が可能です。
４．タッチパネル操作：プラテン回転速度、試料回転速度、試料スイープ操作の制御が可能です。
５．デジタルインジケーター：試料の研磨量が1µm単位で直読が可能です。（断面研磨のみ）

超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡SU9000II

admin — Fri, 20 May 2011 06:29:22 +0000

コールドFE電子源は、他の電子源と比べて光源径やエネルギー幅が小さいので、高分解能観察に適しています。
さらに高輝度かつ安定性な新型コールドFE電子銃を搭載したSU9000IIは高分解能観察のみならず、高品質な
元素分析が可能です。それらの性能を発揮したデータを安定して取得できるよう、光学系の自動調整機能や
データ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。
また、インレンズ形対物レンズを備えたSU9000IIは、EELSの測定が可能です。