中山商事株式会社 » 膜厚計

蛍光X線膜厚計FT230

admin — Tue, 13 Sep 2022 05:22:11 +0000

製品検査の現場における測定作業の効率化のため、測定条件の各種設定を短縮し、簡素化させました。
測定レシピの自動選択、測定箇所確認/試料観察像焦点合わせの迅速化に加え、新規開発のソフトウェア
”FT Connect“を採用することで測定箇所の特定を容易にするとともに、測定操作簡略化を実現しています。

微小部X 線分析装置XGT-9000 Pro/Expert

admin — Wed, 07 Sep 2022 07:01:37 +0000

独自のアルゴリズムによる分析時間の削減に加え、卓上型のエネルギー分散型蛍光X線分析装置として
世界で初めてホウ素（B）からの軽元素分析を実現しました。
ホウ素（B）という蛍光X線では検出が非常に難しい元素の分析が可能になったことで、より一般的な炭素（C）、窒素（N）、
酸素（O）などの軽元素が高感度に分析でき、従来は複数の装置を用いざるを得なかった酸化物や窒化物、
有機物などの分析も1台で完結できます。

蛍光X線膜厚計FT160シリーズ

admin — Wed, 29 Jan 2020 00:43:42 +0000

微小・微細な電子部品などに施されたナノオーダーレベルのめっき膜厚測定に対し、
ポリキャピラリ光学系と高性能半導体検出器を搭載し、高精度・高スループットを実現した
蛍光X線膜厚計最新モデルです。

微小部X線分析装置XGT-9000

admin — Fri, 28 Sep 2018 04:56:25 +0000

本製品は、リチウムイオン電池、食品、化粧品、薬品などの製造プロセス中で問題となる異物解析に
加え、半導体集積回路といった微小部分の元素分析や膜厚・付着量を高精度に測定することができます。
高速スクリーニングと画像処理による強調表示で異物を迅速検出。数十μmレベルまでの異物分析
が可能です。
＜特長＞
・前処理不要・非破壊で簡単元素分析
・微小な領域も高精細な光学観察で測定ポイントに迅速アクセス
・多彩な画像解析ソフトも充実
・分析時間の短縮に貢献します。
・ノイズの少ないX線像で、より鮮明な観察が可能になりました。

蛍光X線分析装置EA1000VX

admin — Thu, 26 Jan 2017 03:04:12 +0000

環境規制物質管理に対応し、高速かつ簡単に有害物質を検査できる蛍光X線分析装置です。
測定の高速化と材料判定などの各種新機能により検査効率を大きく向上しました。膜厚測定や貴金属分析
などの一般分析にも対応可能です。

走査型白色干渉顕微鏡VS1330

admin — Wed, 30 Sep 2015 02:04:05 +0000

光干渉方式の特徴であるスピード・精度・分解能をそのままに、ISO国際標準に準拠した汎用計測
ユニットとしてお使いいただける単眼ベースモデルです。
顕微鏡タイプのため微分干渉ユニットが装着でき微分干渉像も手軽に観察可能です。
卓上・小型タイプのコンパクト設計で場所をとらず、表面粗さ管理や膜厚管理といった検査工程に
適したモデルです。

分光エリプソメーターUVISEL Plus

admin — Wed, 12 Sep 2012 04:10:31 +0000

＜紫外域～近赤外域まで対応のR&D向け高精度分光エリプソメーター＞
先端研究の薄膜・表面・界面の特性評価のために、UVISELシリーズは、モジュール式と性能面でベスト
な組み合わせを提供します。位相変調技術に基づき、紫外域190nmから近赤外域2100nmまでの
広範囲な波長域をカバーしており、高精度・高分解能測定・素晴らしいS/N比で、全波長域に渡って
高品質な測定データを採取することができます。

＜特長＞
UVISEL
　波長範囲：210-880nm
　一般的な膜厚測定にご使用いただける標準波長範囲を有したモデル。将来的に近赤外域への拡張が可能。

UVISEL NIR
　波長範囲：260-2100nm
　UVISELモデルよりも高分解能を有する分光器を有し、紫外域～近赤外域までの連続測定を実現したモデル。
　検出波長域の異なる2種類の高感度検出器を搭載（測定中は自動切換）。ナローバンドギャップ材料の評価や
　超厚膜測定などに最適。

UVISEL FUV
　波長範囲：190-880nm
　高度な光学設計により、素晴らしいS/N比のまま190nmまでの紫外域へ拡張したモデル。将来的に近赤外域へ
　の拡張が可能。SAM膜のような超薄膜測定などに最適。

UVISEL ER
　波長範囲：190-2100nm
　UVISEL FUVモデルに近赤外域を拡張し、UVISELシリーズの中で最も広い波長範囲で素晴らしいS/N比を実現
　したモデル。あらゆる応用分野に最適。

自動薄膜計測装置Auto SE

admin — Sat, 28 Apr 2012 01:44:24 +0000

可視分光エリプソメーターの新機種で、膜厚計測のルーチンワークに最適な装置です。
＜特長＞
・非破壊・非接触による測定
・1nm-15μmの膜厚/光学定数(n,k)を評価
・単層膜に限らず、多層膜の評価も可能
・100μm角以下の微小領域の測定に対応
・厳密な測定スポット位置の確認が可能
・日本語対応ソフトウェア
・電動XYZステージを標準搭載し、高速面内分布測定を実現